Темная полевая микроскопия: основные навыки и знание принципов
Прежде всего, давайте поговорим о структуре и характеристиках микроскопа Темного Поля, почему он называется микроскопом темного поля, какие эксперименты могут его использовать и как его использовать. У вас будет подробное понимание этой статьи.
Первый - это структура микроскопа темного поля. В нашей повседневной жизни нелегко увидеть летающую пыль частиц в помещении, но в темной комнате, если луч света выходит из трещины двери, можно увидеть частицы пыли, что является оптическим явлением Dindar. Микроскоп Темного Поля разработана на основе этого принципа. Его структурная особенность в основном для использования центральной затененной пластины или конденсатора темного поля, обычно используемого в качестве параболического конденсатора, так что центральный луча источника света блокируется и не может попасть в объективу через образцы снизу вниз. Так что свет изменяет свой путь и косоякнут на наблюдаемом образце, а образец отражает или рассеивается, когда он встречается с светом, а рассеянный свет помещается в объектив, так что все поле зрения темное. То, что наблюдается в темном поле, так это изображение дифрагированного света осмотренного объекта, а не самого объекта, так что можно увидеть только существование и движение объекта, и нельзя выделить тонкую структуру объекта. Однако, когда проверенный объект является гетерогенным и больше длины волны 1/2, все уровни дифрагированных лучей в одновременно попадают в объективную линзу, и структура объекта может наблюдаться в некоторой степени. Хотя общий микроскоп темного поля не может ясно видеть тонкую структуру объекта, он может различать существование и движение частиц выше 0. 0 04 UM, что является характерным для того, чтобы обычные микроскопы (максимальное разрешение составляет 0,2 мкм), и может использоваться для наблюдения за структурой живых клеток и движения частиц в ячейках.
Чтобы сделать центральную затенующую пластину, обычный микроскоп может быть преобразован в микроскоп темного поля, пока конденсатор съемный, а диаметр кронштейна подходит для установки конденсатора темного поля. Когда нет конденсатора темного поля, центральная затененная пластина может быть изготовлена из толстой черной бумаги и расположена на рамке фильтра под конденсатором обычного микроскопа, а также может быть получен эффект темного поля.
Отрегулируйте конденсатор микроскопа до самого высокого положения и выровняйте фокусное расстояние с помощью зеркала с низким энергопотреблением.
Снимите окуляр, наблюдайте и отрегулируйте размер диафрагмы от ствола линзы, чтобы сделать его равным поле зрения объективного объектива, видимого в стволе объектива.
Разрежьте центральный световой щит толстой черной бумагой. Диаметр внешнего кольца такое же, что и у каркаса фильтра, а размер центральной части такой же, как у корректируемой апертуры диафрагмы (небольшой кусочек полупрозрачной бумаги может быть помещен на зеркальную поверхность конденсатора на световой отверстии, а световое пятно, отображаемое на бумаге,-это апертуру диафрагмы, а затем-это размер).
Поместите центральный световой щит на каркас фильтра и откройте апертуру, чтобы наблюдать образец.
Если необходимо наблюдать за темным поле с мощным зеркалом, центральный световой щит должен быть переделал в соответствии с размером поля зрения после фокусировки с мощным зеркалом.
Сохраните центральные затененные пластины, сделанные ими, чтобы их можно было использовать в более поздних экспериментах.
Метод применения. Установите конденсатор Dark Field на конденсаторный кронштейн микроскопа.
Выберите сильный источник света, но не предотвращайте вход прямого света в объектив, поэтому обычно используйте лампу для микроскопа для освещения.
Следует добавлять каплю ароматного асфальта между конденсатором и образцом, чтобы предотвратить освещение света, чтобы быть полностью отраженным на конденсаторе, и обнаруженный объект не может быть достигнут, чтобы освещение темного поля не может быть получено.
Подняв коллекционер света, направленная на фокус коллектора света на обнаруженном объекте, то есть облучение обнаруженного объекта с вершиной конуса. Если конденсатор может перемещаться по горизонтали и оснащен центральным регулировкой, центральная регулировка должна быть выполнена сначала так, чтобы оптическая ось конденсатора и оптическая ось микроскопа строго находилась в прямой линии.
Выберите объектив, соответствующий конденсатору, отрегулируйте фокусное расстояние (метод работы такой же, как и у обычного микроскопа) и найдите изображение объекта, которое будет наблюдаться.
Наконец, наблюдайте за живыми клетками под микроскопом Darkfield на учебной платформе. На темном фоне можно увидеть дифрагированные световые изображения клеток, ядер и органелл.
